一、单通道X射线荧光光谱仪结构单通道X射线荧光光谱仪。X射线荧光光谱仪的分光晶体为平面晶体。这类仪器一般由四部分组成：X射线发生、X射线分光、检测和记录系统以及操作和控制系统。各系统均由计算机控制和操作。1、X射线发生系统是由X射线管及其控制部分、高压油箱、高压电缆和X射线管冷却单元等组成。这些组成部分保证了激发源(X射线管)发射出稳定的、有一定强度的一次X射线。2、X射线分光系统是由X射线分光晶体、样品室、真空抽气系统和气路系统组成。X射线光谱仪包括SC闪烁计数器、*狭缝、...

1、阳极靶的选择：X射线衍射仪厂家选择阳极靶的基本要求：尽可能避免靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样的背底，使图样清晰。必须根据试样所含元素的种类来选择zui适宜的特征X射线波长(靶)。当X射线的波长稍短于试样成分元素的吸收*，试样强烈地吸收X射线，并激发产生成分元素的荧光X射线，背底增高。其结果是峰背比(信噪比)P／B低(P为峰强度，B为背底强度)，衍射图谱难以分清。X射线衍射所能测定的d值范围，取决于所使用的特征X射线的波长。X射线衍射所需测定的d值范...

一、锐影X射线衍射仪在点阵常数测定的应用点阵常数是晶体物质的基本结构参数，测定点阵常数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数等方面都得到了应用。点阵常数的测定是通过X射线衍射线的位置（θ）的测定而获得的，通过测定衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值。点阵常数测定中的度涉及两个独立的问题，即波长的精度和布拉格角的测量精度。波长的问题主要是X射线谱学家的责任，衍射工作者的任务是要在波长分布与衍射线分布之间建立一一对应的关系。知道每根反射...

荧光x射线分析样品分析中的注意事项：1、样品制备时，其粉磨时间、添加剂、设定压力和保压时间必须与标定该工作曲线时的状态严格一致，否则会造成粉磨粒度分布不均匀，带来系统的误差，影响分析结果。2、粉磨不同品种物料时，如果用同一料钵，则必须用待测样品洗磨或是用清水把料钵洗净，否则由于其它物料的污染会产生较大的误差。3、样品压片前必须均匀布入钢环内，不能出现堆积分布，否则会造成压片密度的局部差异，影响分析结果。4、制好的样片不能擦摸光洁面，也不能放在空气中太久再测量，不然会影响测量结...

在X射线衍射实验中任何一种粉末的衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，只有这样才可以使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒；才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向的*随机性；只有这样才能保证用照相法获得相片上的衍射环是连续的线条；才能保证用衍射仪法获得的衍射强度值有很好的重现性，才能有效抑制由于晶癖带来的择优取向；才能在定量解析多相样品的衍射强度时，忽略消光和微吸收效应对衍射强度的影响。在实验时，试样实际上是不动的，即使使用样品旋转器，由于...