DDCOM 用于超快速晶体取向测量 用于晶体取向测量的台式 X射线衍射仪 (DDCOM) 是一种用于自动测定各种晶体取向的工具。

用于晶体取向测量的SDCOM小型衍射仪 用于单晶（晶锭和晶圆）的材料研究、生产和质量控制的台式XRD设备。 Si | SiC | 金刚石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO₃ | bbo | GaN 和其他一百多种材料。

Wafer XRD Panalytical X射线技术 用于全自动晶圆拣选、生产和质量控制。

Omega/Theta Panalytical X射线技术 最高精度，最大灵活性

XRD 系列 晶圆和铸锭快速准确的晶向定位 从全自动的在线分析到晶圆材料的快速质量检查,我们的晶向定位解决方案在设计时考虑到了晶棒、铸锭、切片和晶圆的全部应用场景。此系列产品利用XRD分析技术在晶圆生产的全部流程中，提供简单、快速、高精度的晶体定向测量，大大提高产品良率。