联系我时,请告知来自化工仪器网

4006306902

当前位置:首页   >  马尔文帕纳科官方网站下载   >  x射线荧光光谱仪  >  波长色散型X荧光光谱仪(WDXRF)

  • 马尔文帕纳科晶圆分析仪2830 ZT提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 专门针对半导体和数据存储行业而设计,该仪器可为多种晶片(厚达 300 mm)测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。

    更新日期:2024-09-23
    访问次数:122601
共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
Baidu
map