X射线荧光光谱分析之x射线强度的测量

 

    测量x射线强度时，原则上应当测量分析线下的积分强度，但在波长色散型X射线荧光光谱仪上，晶体一次只能使一种波长的x射线发生衍射而进入探测器。因此测量分析线峰下的积分强度很不方便，而且很费时间，然而位于zui大强度的2θ位置上的峰值强度可以代表谱线的积分强度，这样测量就很方便。

 

    测量的方法有三种：

 

1、定时计数法：在预定时间T内，记录x射线的光子数N，强度为I=N/T。定时器和计数器同时起动，定时时间到，计数器同时停止。

 

2、定数计时法：预先设定总计数N，定时器和计数器同时起动，当达到所需的计数N时，定时器和计数器同时停止，记录定时器的时间T，强度为I=N/T。

 

3、积分计数法：测量峰下的积分强度。先将测角器调至被测元素衍射峰的一侧，测角器、定时器、计数器同时启动，当衍射峰全部扫描完时，测角器，定时器和计数器同时停下，记录总计数N和扫描时间T，计算出强度为I=N/T。