马尔文帕纳科XRD系列讲座—— 如何获得高质量粉末衍射数据？| 薄膜XRD表征 | X射线散射技术的结构分析

X-射线衍射技术是材料表征的重要手段。随着材料研究的快速发展而产生的越来越多的表征要求和XRD技术的不断进步，XRD分析的领域也得到了许多扩展。材料科学工作者可以使用XRD表征与材料晶体结构相关的一系列性质，为材料研究提供大量的信息。为使马尔文帕纳科XRD用户更好的了解XRD技术的多领域发展和有效的使用现有的XRD仪器进行材料表征研究。特此举办系列XRD技术发展网络讲座，邀请公司XRD应用专家陈京一老师进行宣讲，陈老师将结合其近四十年宝贵的XRD工作经验为您介绍XRD在多个材料表征领域中的应用，赶快报名参加吧！

6月2日 14:00-15:30 高质量粉末衍射数据的获得和相变过程的原位表征

物相分析是粉末X-射线衍射广泛和基础的应用。获得高质量的粉末衍射数据是得到准确物相鉴定和定量分析的重要的因素。同时进行结构精修和从粉末衍射数据进行晶体结构解析也依赖于粉末衍射数据的质量。本次讲座将介绍从光学结构的改进等方面来获得高质量粉末衍射数据的方法。同时，还将介绍使用变温，变压等附件研究相变过程的动态原位表征方法。

6月4日 14:00-15:30  多晶，非晶薄膜的XRD表征

薄膜（涂层）技术是新材料发展的一个重要领域。而XRD是这一类材料表征的重要手段。使用XRD我们除了可以测量薄膜的物相外，还可以测量薄膜的多个其它性质（如厚度，界面等）从而表征薄膜的质量。本次讲座的内容为使用XRD进行薄膜（涂层）分析的各种技术及其应用。

6月11日 14:00-15:30 X射线散射技术的结构分析

随着新材料研究的深入，对其结构表征的需求也在不断的发展，例如纳米结构的表征，非晶态的研究，材料中原子间作用的变化都是研究者感兴趣的领域。而上述的研究经常需要前往同步辐射中心和线站进行。本次讲座将介绍使用您现有的实验室XRD并配有一定的附件就可以进行这些领域的研究。

讲师介绍

陈京一先生，马尔文帕纳科XRD应用专家，中国科技大学学士，中国科学院上海冶金研究所（现微系统研究所）硕士，一直从事XRD方法研究和应用支持工作，具有近40年XRD分析及应用研究行业经验。

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