纳米粒度电位仪是一种在科研和工业领域广泛使用的精密物理测量工具,能够准确测量纳米级别的颗粒大小和电位变化。其基于电学和纳米技术的结合,通过电泳和沉降原理来测量颗粒的大小和电位。在电场作用下,颗粒会受到电场力的作用而发生移动,其移动速度与颗粒的大小、形状和电荷量有关。通过测量颗粒在电场中的移动速度,可以推算出颗粒的大小和电位。具体来说,激光散射技术用于测量颗粒的尺寸分布,而电泳技术则用于测量颗粒的表面电荷性质,即Zeta电位。
1、光学系统
光源
作用:提供稳定且高强度的光线,照亮样品中的纳米颗粒,以便后续进行散射光的检测和分析。
常见类型:通常采用激光作为光源,如氦氖激光、半导体激光等。激光具有单色性好、方向性强、亮度高等优点,能够产生高质量的散射光信号。
透镜和光学元件
作用:用于聚焦光源发出的光线,使其准确地照射到样品上;同时收集纳米颗粒散射后的光线,并将其聚焦到检测器上。此外,还可以对光线进行准直、滤波等处理,以提高测量的准确性和精度。
常见类型:一般包括聚焦透镜、准直透镜、滤光片等。这些光学元件通常由高质量的光学材料制成,如石英、氟化钙等,以减少光线在传输过程中的能量损失和像差。
2、样品室
作用:用于放置和容纳待测的纳米颗粒样品。它通常设计成密封的结构,以防止外界环境因素(如灰尘、杂质等)对样品的影响,并保持样品的稳定性和均匀性。
结构特点:样品室的材料一般为透明或半透明的材质,如石英、玻璃等,以便光线能够顺利通过并照射到样品上。同时,样品室的形状和尺寸会根据不同的仪器型号和测量需求进行设计,常见的有矩形、圆形等形状。
2、检测系统
光电探测器
作用:用于接收纳米颗粒散射后的光线信号,并将其转化为电信号。光电探测器的性能直接影响到仪器的灵敏度和分辨率。
常见类型:常用的光电探测器有光电二极管、光电倍增管、电荷耦合器件(CCD)等。其中,光电倍增管具有较高的增益和灵敏度,适用于微弱光信号的检测;而CCD则具有高分辨率和宽动态范围的特点,能够同时获取多个像素点的信息,适用于复杂的样品分析。
信号处理电路
作用:对光电探测器输出的电信号进行放大、滤波、模数转换等处理,将其转化为数字信号,以便后续的数据处理和分析。信号处理电路的性能决定了仪器的信噪比和测量精度。
组成部分:一般包括放大器、滤波器、模数转换器(ADC)等。放大器用于将微弱的电信号放大到合适的幅度;滤波器用于去除信号中的噪声和干扰成分;ADC则将模拟信号转换为数字信号,以便计算机进行处理。
3、控制系统
作用:用于控制仪器的各个部件协同工作,实现样品的进样、测量过程的自动化以及数据的采集和处理等功能。
组成部分:通常由计算机、微处理器、电机驱动器等组成。计算机是控制系统的核心,它通过运行专门的软件程序来控制仪器的操作和数据处理;微处理器负责协调各个部件之间的通信和动作;电机驱动器则用于驱动样品室的移动、搅拌器的转动等机械操作。
4、进样系统
作用:负责将待测的纳米颗粒样品引入到样品室中,并在测量完成后将样品排出。进样系统的设计和性能直接影响到样品的测量结果和重复性。
组成部分:一般包括进样泵、样品池、管道等。进样泵用于将样品从外部容器中抽取并输送到样品室中;样品池用于存放样品,并与样品室相连通;管道则用于连接各个部件,确保样品能够顺利流动。
