台式能量色散X射线荧光光谱仪的典型元素干扰

　　激发辐射的散射将影响样品中元素的特征辐射强度，这是由于散射过程将影响光谱的背景。此外，还存在两个主要的效应：样品中激发辐射被吸收和由此产生的或由其他元素（基体）发射的荧光辐射及样品中其他元素的次级激发（增强）。

　　台式能量色散X射线荧光光谱仪样品中测试元素的特征谱线的强度会受到其它元素的干扰，典型的干扰如下：

　　1、逃逸峰

　　逃逸峰的产生机理：进入硅检测器的X荧光如果其能量比硅的吸收限（1.74KeV）高，那么该入射X荧光会激发出新的硅X荧光，当部分硅的X荧光逃逸出监测器时，探测器只能探测到原入射X荧光损失了1.74KeV之后的能量，从而形成逃逸峰。

　　2、和峰

　　和峰的产生机理：当多束X荧光在几乎同一时间射入检测器时，这些射线的能谱累积处会出现和峰，检测器会将其误判为另外一种元素的特征射线。在针对RoHS禁用物质的检测中，如果铅大量存在，那么，在Pb-Lb1、Pb-Lα线累积并加倍的位置会出现一个和峰，该峰于Cd的能谱位置重叠，对元素Cd的测定产生影响。

　　3、As对Pb的影响

　　在对RoHS禁用物质的检测中，Pb-Lα线和As-Kα线有重叠，因此，在样品中含有大量元素As时，会对元素Pb的测定结果产生影响。

　　4、高Br对Pb的影响

　　当样品中含有大量Br的时候，会把相邻的Pb、Lb峰盖住或抬高,则影响到元素Pb的测定结果。